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专利名称：一种均匀光源角均匀性测试装置专利类型：实用新型专利
发明人：昌明,赵建科,薛勋,周艳,李晶,曹昆,胡丹丹,宋琦申请号：CN201820809288.0申请日：20180528公开号：CN208270178U公开日：20181221
摘要：本实用新型属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本实用新型的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X‑Y二维扫描架、旋转平台和光亮度探测器；X‑Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上。
申请人：中国科学院西安光学精密机械研究所
地址：710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
国籍：CN
代理机构：西安智邦专利商标代理有限公司
代理人：陈广民
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