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专利名称：一种基于多阶测试门限判别的故障隔离方法专利类型：发明专利发明人：石君友,乔丽,刘衎申请号：CN201410158704.1申请日：20140418公开号：CN103927447A公开日：20140716
摘要：本发明公开了一种基于多阶测试门限判别的故障隔离方法，包括步骤一：确定产品的监测征兆基线数据；步骤二：确定产品的故障模式集以及各故障模式的监测征兆数值，构建故障—征兆原始矩阵；步骤三：建立各阶测试门限逻辑矩阵；步骤四：将各阶测试门限逻辑矩阵进行累加，建立综合阶数矩阵；步骤五：根据综合阶数矩阵进行故障隔离。本发明通过测试门限翻倍的方式，将是否超差的二值逻辑判别细化为不同超差程度的多级判别，可有效实现对超差程度不同的故障进行隔离。
申请人：北京航空航天大学
地址：100191 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京永创新实专利事务所
代理人：赵文颖
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